Analyse von Oberflächen

Im März 2016 wurde das Technikum der Steinemann Technology AG feierlich eröffnet. Die modernen Anlagen und Räumlichkeiten dienen einerseits der Forschung, andererseits aber auch der Schulung von Kunden und den Steinemann Technology Servicetechnikern. Das Technikum verfügt über eine SATOS-Schleifmaschine, über eine kleinere Schleifmaschine, einem digitalen Mikroskop (Alicona) zur Analyse von Oberflächen sowie weiteren Geräten und Maschinen.

Insgesamt investierte Steinemann Technology bisher ca. 1 Mio. € in das neue Technikum. Die SATOS wird hauptsächlich für Schulungszwecke eingesetzt. Mit der kleineren Schleifmaschine möchte Steinemann einen besseren Einblick bekommen, welche Schleifbandeigenschaften sich auf die Qualität einer geschliffenen Holzwerkstoff-Platte auswirken. So können einzelne Parameter am Band geändert und die Auswirkungen auf das Schleifband mit dem Alicona-Mikroskop herausgestellt werden.

Im Technikum der Steinemann Technology AG wird auch Grundlagenforschung betrieben. So soll beispielsweise herausgefunden werden, ob und wie sich die Schleifbandgeschwindigkeit auf Parameter wie Standzeit, Plattenqualität, effektive Stromaufnahme sowie weiteren Eigenschaften auswirken. Das Technikum wird auch für Dienstleistungen eingesetzt. So haben die Kunden von Steinemann Technology die Möglichkeit, Platten (in DIN-A4 Grösse) nach St-Gallen zu schicken, um sie dort näher untersuchen zu lassen. Diese Dienstleistung wurde bereits im Vorfeld in Anspruch genommen.

Beispielhafte Aufträge:

  • Ausmessen der Dimensionen von Nadelstreifen
  • Ursachen von Schleifkratzern zuordnen
  • Ausprägung (Höhe-/Tiefenverhältnis und Breite) von Rattermarken ausmessen
  • Auswirkung der Wahl unterschiedlicher Kornfolge

Sollten Sie ebenfalls Fragen zu Schleiffehlern, unbekannten Schleifbildern, Konfiguration der Schleifmaschine oder generell Hilfe benötigen: Das Experten-Team der Steinemann Technology AG freut sich auf Ihre Fragen.

Analyse der Oberflächen

Matthias Bach (Entwicklungstechnologe) beim Messen und Beurteilen einer geschliffenen Spanplatte mit dem Alicona Mikroskop.

Analyse von Oberflächen

Schleifbild bei dem deutliche (tiefe) Kratzer des vorletzten N-Kopfpaares sichtbar sind. Das heisst, dass entweder das letzte N-Kopfpaar weiter zugestellt werden muss oder dass ein zu grosser Kornsprung zwischen vorletztem und letztem N-Kopfpaar gewählt wurde.